ICP光谱仪的优点
1. 多元素同时检出能力。
可同时检测一个样品中的多种元素。一个样品一经激发，样品中各元素都各自发射出其特征谱线，可以进行分别检测而同时测定多种元素。
2. 分析速度快。 试样多数不需经过化学处理就可分析，且固体、液体试样均可直接分析，同时还可多元素同时测定，若用光电直读光谱仪，则可在几分钟内同时作几十个元素的定量测定。
3. 选择性好。 由于光谱的特征性强，所以对于一些化学性质极相似的元素的分析具有特别重要的意义。如铌和钽、铣和铪、十几种稀土元素的分析用其他方法都很困难，而对aes来说是毫无困难之举。
ICP光谱仪的特点
1、 炉中取的样品只要打磨掉表面氧化皮,固体样品即可放在样品台上激发,免去了化学分析钻取试样的麻烦.对于铝及铜、锌等有色金属样品而言,可用小车床车去表面氧化皮即可.
2、 从样品激发到计算机报出元素分析含量只需20-30秒钟,速度非常快,有利于缩短冶炼时间,降低成本.特别是对那些容易烧损的元素,更便于控制其后的成份.
ICP光谱仪是什么构成的？
一台典型的ICP光谱仪主要由一个光学平台和一个检测系统组成。包括以下几个主要部分：
1. 入射狭缝: 在入射光的照射下形成光谱仪成像系统的物点。
2. 准直元件: 使狭缝发出的光线变为平行光。该准直元件可以是一独立的透镜、反射镜、或直接集成在色散元件上，如凹面光栅光谱仪中的凹面光栅。
3. 色散元件: 通常采用光栅，使光信号在空间上按波长分散成为多条光束。
4. 聚焦元件: 聚焦色散后的光束，使其在焦平面上形成一系列入射狭缝的像，其中每一像点对应于一特定波长。
5. 探测器阵列：放置于焦平面，用于测量各波长像点的光强度。该探测器阵列可以是CCD阵列或其它种类的光探测器阵列。
ICP光谱仪的校正
ICP光谱仪校正的目的是消除环境温度造成的光学系统漂移与机械震动造成的机械位移。通常，在仪器安装调试过程中首先要进行光学系统校正；在仪器正常使用过程中根据环境温度的条件适当进行光学系统校正。1991年新的中阶梯光栅固态检测器ICP-OES仪器问世,即国内所说的全谱直读电感耦合等离子体发射光谱仪。 在PRODIGY仪器中，由于仪器本身有恒温系统，操作人员只要控制仪器达到恒温条件，即可正常进行分析测量，无须频繁校正光学系统。
波长校正
在使用任何一个元素、任何一个波长进行分析测量之前，都要做波长校正。波长校正的目的是：对事先存储在谱线库中的理论波长坐标位置进行修正、保证实际使用的波长坐标位置准确。
仪器安装调试以后，波长校正不需要经常做。如果实验室温度变化较大，应适当进行波长校正。
以上信息由专业从事icp发射光谱仪价格的吉天仪器于2025/3/10 23:42:28发布
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