铝及铝合金加工产品是有色金属工业中的轻金属产品，是其他行业的重要原材料。之前铝及铝合金中化学成分的测定常用滴定法、分光光度法与原子吸收光谱法等，但是这些方法样品前处理过程繁琐。近年来，随着国产直读光谱仪的飞速发展，在金属成分分析应用中运用的越来越广泛。但是，对于非常薄铝箔进行分析时存在一定的困难：分析样品在预燃激发时非常容易被击穿，在层叠预燃时又困于将其中滞留的空气赶跑，导致激发失败。因此利用直读光谱仪对铝箔样品进行分析，样品的制备是关键技术之一。
在直读光谱仪上进行分析的样品均要求为块状固体。制备块状铝箔样品，途径一是将样品高温加热至熔融，然后冷却使其凝结成块状；其二是通过机械外力作用把铝箔压制成结实的块状。前者对于分析一些易挥发性元素（As, Sn等）不利；此外，如果铝箔样品表面经过钝化等工艺处理，难于融结。本文用第二种方法制备样品，并以激发时收集到的基体元素Al的光强来比较各种制样方法的差异。
结果表明，由机械压样机破碎样压制制备的铝箔样品可胜任在直读光谱仪上进行快速分析，测定的结果与化学方法相一致，适合于日常检验样品量繁重的工厂、实验室、品质检验部门之样品的制备及检测。
现在有些品牌号称能够用火花直读光谱仪(OES)直接分析灰口铸铁，不知道是否可信。毕竟几十年的(OES)工作经验，告诉我们，灰口铸铁必须白口化（也就是急冷使得片状石墨的灰铁变成游离碳化物，以渗碳体的白口铸铁），才能用光谱仪分析。
直读光谱仪是用电弧（火花）的高温使样品中各种元素从固态直接气化并被激发而射出各元素的特征波长，经光栅分光后，成为按波长排列的“光谱”，这些元素的特征光谱线通过出射狭缝，射入各自的检测器，光信号变成电信号，经仪器的控制测量系统将电信号积分并进行模/数转换，然后由计算机处理，并计算出各元素的百分含量。
直读光谱仪取样方法影响
取样方法和对样品的处理是光谱分析中影响分析精度和准确度的重要而关键的因素。炉前分析时要对炉中铸态的钢样采取快速红切的方式进行，如果检测的样品存在裂纹、杂质和气孔等问题，要重新进行取样检测。对于低碳钢材料要将其置入流水中进行骤降温处理，确保样品组织结构形成马氏体和奥氏体，从而有效提升碳的分析结果的准确性。但要引起注意的是，对于高碳样品进行切割后，不能采取骤降温的方式进行处理，防止因为骤降温引发裂缝发生。另外，对于铸铁和球墨铸铁的检测和分析，要确保所检测的样品进行白口化，并确保取样的温度、脱模时间、冷却速度标准和统一。另外不同材料的检测分析，要选择适合的研磨工具，通常使用氧化铝砂轮片进行打磨，要注意打磨的颗粒处于中等状态，不能太粗或太细。需要强调的是，试样样品的表面要打磨掉0.5至1.5毫米，除去样品表面的氧化层，防止检测结果的不准确，氧化层对碳的分析结果的准确性影响更大。
光电光谱分析选用的分析线，必需符合下列要求
直读光谱分析时，一般都采用内标法。因内标法进行分析时常采用多条分析线和一条内标线组成，常用试料中的基体元素为内标元素。组成的线对要求均称，就是当激发光源有波动时，两条线对的谱线强度虽有变化，但强度比或相对强度能保持不变。
如R表示强度比即
R=I1/I0
I1为分析线的强度，Io为内标线强度，表明I1和Io同时变，而R则不受影响。R与含量C之间有线性关系。
在光电直读光谱分析时，有很多分析通道，要安装许多内标通道有困难，因此采用一个内标线。但有人认为再要提高光电光谱分析的准确度还得采用不同的内标线，这还有待于光电转换元件的小型化来解决。
光电法时，有时还用内标线来控制曝光量，称为自动曝光，也就是样品在曝光时，分析线和内标分别向各自积分电容充电，当内标线的积分电容器充电达到某一预定的电压时，自动截止曝光。此时分析线的积分电容器充电达到的电压即代表分析线的强度I，并且亦即代表分析线的强度比R(因为R=I1/Io，而此时Io保持常数)这个强度I或强度比R就由测光读数所表示。
现在一般采用计时曝光法较为普遍。
以上信息由专业从事光谱仪价格的钢研纳克于2025/5/7 15:47:38发布
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