x射线发生装置解决哪些问题?
(1)当材料由多种结晶成分组成,需区分各成分所占比例,可使用XRD物相鉴定功能,分析各结晶相的比例。
(2)很多材料的性能由结晶程度决定,可使用XRD结晶度分析,确定材料的结晶程度。
(3)新材料开发需要充分了解材料的晶格参数,使用XRD可快捷测试出点阵参数,为新材料开发应用提供性能验证指标。
(4)产品在使用过程中出现断裂、变形等失效现象,可能涉及微观应力方面影响,使用XRD可以快捷测定微观应力。
(5)纳米材料由于颗粒细小,极易形成团粒,采用通常的粒度分析仪往往会给出错误的数据。采用X射线衍射线线宽法(谢乐法)可以测定纳米粒子的平均粒径。
x射线发生装置-涂层应用
现代生活的每个环节都得益于涂层或薄膜技术。无论是集成电路芯片上的阻挡层薄膜还是铝制饮料罐上的涂层,X射线是研发,产品过程控制和不可缺少的分析技术。作为纳米技术研究,X射线衍射(XRD)和附属技术被用于确定薄膜分子结构的性质。理学的技术和经验为涂层和薄膜测量提供各种无损分析解决方案。
x射线发生装置-地质,矿产
在研究行星进程和地球构造过程中,地理学家们需要分析岩石和矿物样品的组成。X射线衍射仪分析技术如:小点激发,分布分析和无标定量分析,日渐成为地质研究及矿物学研究领域内的主要仪器。X射线衍射仪(XRD)可定量测量相组成。X射线衍射数据的Rietveld分析被认为是晶体相定量分析适合的方法。技术和经验为这些判定提供了一系列解决方案。
以上信息由专业从事低能x射线发生装置报价的易达测量于2024/6/15 11:33:04发布
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