x射线发生装置原理
x射线的波长和晶体内部原子面之间的间距相近，晶体可以作为X射线的空间衍射光栅，即一束X射线照射到物体上时，受到物体中原子的散射，每个原子都产生散射波，这些波互相干涉，结果就产生衍射。衍射波叠加的结果使射线的强度在某些方向上加强，在其他方向上减弱。分析衍射结果，便可获得晶体结构。
对于晶体材料，当待测晶体与入射束呈不同角度时，那些满足布拉格衍射的晶面就会被检测出来，体现在XRD图谱上就是具有不同的衍射强度的衍射峰。对于非晶体材料，由于其结构不存在晶体结构中原子排列的长程有序，只是在几个原子范围内存在着短程有序，故非晶体材料的XRD图谱为一些漫散射馒头峰。
x射线发生装置结构
主要包括三部分：X射线光管、测角仪和检测器。采用应用广泛的Cu靶作为X射线源，配备PIXcel高能检测器，此检测器为固态探测器由65000个像素组成，每个像素的尺寸为55×55微米，每个像素都有独立电路，具有快速读出时间和较高的动态范围：每像素行每秒超过1300万次计数。此外仪器光路系统配备索拉狭缝、防散射狭缝、面罩、单色器等，以使X射线源发射X射线光以单色光源照射样品，而样品产生的衍射光以平行光束达到检测器。
x射线发生装置解决哪些问题？
（1）当材料由多种结晶成分组成，需区分各成分所占比例，可使用XRD物相鉴定功能，分析各结晶相的比例。
（2）很多材料的性能由结晶程度决定，可使用XRD结晶度分析，确定材料的结晶程度。
（3）新材料开发需要充分了解材料的晶格参数，使用XRD可快捷测试出点阵参数，为新材料开发应用提供性能验证指标。
（4）产品在使用过程中出现断裂、变形等失效现象，可能涉及微观应力方面影响，使用XRD可以快捷测定微观应力。
（5）纳米材料由于颗粒细小,极易形成团粒,采用通常的粒度分析仪往往会给出错误的数据。采用X射线衍射线线宽法(谢乐法)可以测定纳米粒子的平均粒径。
x射线发生装置-金属应用
铸造厂，冶炼厂和钢厂还有金属行业的其他方面都是连续生产并要求日夜控制生产和进料出料的质量。合金的化学含量，残余应力是与结构失效相关的重要特征。X射线衍射仪是无损测量残余应力的方法。X射线衍射具有的空间分辨率和测量硬化材料的能力提供了非接触式测量。为了满足分析任务的各种苛刻要求，系列仪器为各种预算和需要提供灵活组合方式和样品处理方式。
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