ICP光谱仪光学系统的知识
1.分辩率
光谱仪的分辩率决定了仪器分辩复杂谱线的能力。高分辨率减少了建立分析方法所需的时间，有较好的检出限和较高的准确度。性能故障时由于仪器本身设计或安装或某些元器件不符合要求而引起。ARCOS 的实际分辩率为：Fe(310.030)<0.007nm。采用3600刻线/mm光栅的光谱范围为190nm—520nm，可以适用于大部分的光谱分析元素。
2.光栅直接驱动
ARCOS型光谱仪采用直接驱动光栅的机械传动方式，计算机控制下的自动波长参比保证波长的机械准确度总是优于0.003nm。ICP光谱仪两个熄火的原因（1）ICP光谱仪本身维持和仪器认为有危险而关闭ICP光谱仪，称为保护性熄火。由于的重现性,扫描速度很快,全谱范围扫描小于8秒.光栅转动的高速度使得仪器在1分钟内可以分析15个元素,这意味着节省气和样品,分析速度快, 稳定性较高。
ICP光谱仪的校正方法
波长校正
波长校正是为使实际波长同检测器检出波长相一致。大致可分为两分部：首先通调整仪器来对光谱仪进行校正，然后是通过漂移补偿的办法减少因环境的变换导致谱线产生位移。(2)主要性能指标的要求按照检定规程和仪器的说明书，在检定周期内对分光光度计进行有关关键指标的检查，以确保仪器性能正常。光谱校正是仪器实际测得的波长与理论波长之间出现的偏差别进行的校正，一般是通过测试一系列元素的波长来进行校正，校正后所得数据即为对光谱彼进行校正的校正数据。
漂移补尝是因为光普仪光谱线位移与波长、温度、湿度、压力变化之间有非线性函数关系，这种函数关系具有普遍适用性。其中零级光谱线随波长、温度变化产生的位移。但是该观测方式需要不断地切换反射镜，可能导致仪器的稳定性变差。漂移补偿是一种常规监视过程，其原理是在进样间歇期间，监测多条氢线波长，将实际值与理论值相比较，并对误差进行补偿。
ICP光谱仪主要用于微量元素的分析，可分析的元素为大多数的金属和硅、磷、 硫等少量的非金属，共 72 种。广泛地应用于质量控制的元素分析，超微量元素 的检测，尤其是在环保领域的水质监测。作为一台精细丈量仪器，它还需求有相对安稳的电源，供电电压的改变通常不超越＋百分之5。还可以对常量元素进行检测，例如组分 的测量中，主要成分的元素测定。
ICP发射光谱常见问题
1、影响等离子体温度的因素有： 载气流量：流量增大，中心部位温度下降; 载气的压力：激发温度随载气压力的降低而增加; 频率和输入功率：激发温度随功率增大而，近似线性关系，在其他条件相同时，增加频率，放电温度降低; 第三元素的影响：引入低电离电位的释放剂(如T1)的等离子体，电子温度将增加。(2)ICP光谱仪的供电，保证仪器运行时，不会因为线路的电压降过大，造成仪器损坏，影响仪器寿命。
2、电离干扰的消除和抑制 原子在火焰或等离子体的蒸气相中电离而产生的干扰。它使火焰中分析元素的中性原子数减少，因而降低分析信号。ICP光谱仪的来历ICP光谱仪在国内的发展也不过几十年的时间，不可谓短或长。在标准和分析试样中加入过量的易电离元素，使火焰或等离子体中的自由电子浓度稳定在相当高的水平上，从而抑制或消除分析元素的电离。此外，由于温度愈高，电离度愈大，因此，降低温度也可减少电离干扰。
ICP光谱仪的作用
虽然仪器的灵敏度在一定范围内波动，但仍有一合理的波动范围，如信号强度或测量RSD异常应注意检查。在ICP光谱仪上测量的样品应确保无沉淀或悬浮物，必要时应重新过滤，一此粒很细的胶体溶液应离心，以免发生堵塞。过高盐分的样品应适当稀释后才能测定。批量样品的测定应注意样品间应用稀的酸或去离子水清洗，个别高含量的样品应稀释后重新测定，并注意清洗足够的时间，以避免污染下一个样品。在ICP光谱仪上测量的样品应确保无沉淀或悬浮物，必要时应重新过滤，一此粒很细的胶体溶液应离心，以免发生堵塞。等离子体光谱仪属于精密光学仪器，对环境的温度有一定的要求，如果温度变化太大，光学元件受温度变化的影响就会产生谱线漂移，仪器寻峰不准 ，尤其是单道扫描型的仪器，甚至有时候会找不到峰。测量标准和样品时的温差大的话会造成测定数据不稳定，一般室温要求维持在20～25摄氏度间的一个固定温度，温度变化应小于±3/小时即可。一般空调就能达到，这也要求放置仪器的房间要适中。
以上信息由专业从事吉天ICP光谱仪厂家的吉天仪器于2024/6/30 7:48:51发布
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